镀层测厚仪分类

镀层测厚仪主要有以下几类
1.x-射线荧光测厚仪
2.β-射线测厚仪
3.库仑测厚仪

XRF-2000 x-射线镀层测厚仪

＊ 兼容Microsoft Windows操作系统之软件
＊ 可测单层, 多层 1-6层, 合金厚度及比例
＊ 药水分析功能.
＊ 拥有多种 Filter 选择性
＊ 定点自动定位分析
＊ 光径对准全自动化
＊ 自动显示量测参数
＊ 2D/3D, 任意位置量测控制
＊ 雷射对焦与自动定位系统
＊ 温控稳定延长校准时效
＊ 20X 倍放大摄影系统.
＊ X-ray运作待命睡眠控制                                      
＊ 全进口美日系零件价格优势以及快速服务时效
＊ 彩色区别量测数据,多重统计显示窗口与报告编辑应用

综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,*的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量,为您大大节省购买标准片的成本.*超越其他品牌的所谓FP软件.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度,简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.





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